Zeshan Ali distingué par IEEE MTT France

Zeshan Ali, doctorant au laboratoire LCIS au sein de l’équipe ORSYS, a obtenu une distinction (mention honorable) pour son papier intitulé « Chipless RFID Tag Discrimination and the Performance of Resemblance Metrics to be Used for it », présenté en juin 2018 à la conférence IEEE International Microwave Symposium - IMS 2018, à Philadelphie aux Etats-Unis.

Cette distinction étudiante a été attribuée par le chapitre IEEE MTT France.

Félicitations Zeshan !

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Zeshan Ali, Ph.D. student from the ORSYS team at LCIS, has received an Honorable Mention from the IEEE MTT France chapter for the student paper competition in the IEEE International Microwave Symposium – IMS, held in june 2018 in Philadelphia.

Zeshan has won this student award for his research paper on « Chipless RFID Tag Discrimination and the Performance of Resemblance Metrics to be Used for it ».

Congratulations!