Génération automatique de test pour les contrôleurs logiques programmables synchrones
Résumé :
Jury :
· Yves Le Traon, Professeur, Université du Luxembourg, Rapporteur
Virginie Wiels, Chercheur (HDR), ONERA Toulouse, Rapporteur
Lydie du Bousquet, Professeur, Univ. Grenoble-Alpes, Examinateur
Christophe Deleuze, Maître des Conférences, Grenoble INP, Co-encadrant de thèse
Ioannis Parissis, Professeur, Grenoble INP, Directeur de thèse
Serge Zaninotti, Ingénieur, Thales, Valence
Vincent List, Innovation and Adv, R&D Manager, InnoVista Sensors Valence, Invité
mise à jour le 1 juin 2016