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Qualification des systèmes RFID en environnement opérationnel

Doctorant/Student

Audrey Pouzin
démarrage en janvier 2007, soutenance le 18 décembre 2009
 

Encadrant/Supervisors

Directeur de thèse : Tan-Phu Vuong

Co-encadrant: Smaïl Tedjini

Encadrant LNE:  Jacques PERDEREAU et Lionel DREUX

Résumé


Le développement de la technologie RFID est conditionné par la définition et la validation sur le terrain d'un certain nombre de standards et de normes admises par tous les acteurs. C'est dans ce contexte que le LNE et le LCIS se sont associés afin d'encadrer une thèse visant à permettre la qualification des systèmes RFID, que se soit au niveau des réglementations en vigueur ou des performances réelles observées en milieu opérationnel.

Il s'agit, entre autres, pour une application RFID, d'identifier quels sont les paramètres les plus pertinents à mesurer. Il peut s'agir de paramètres RF tel que le champ EM et son évolution spatiale et/ou de paramètres fonctionnels en terme de protocole. La mesure de tel ou tel paramètre doit également faire l'objet de recherches spécifiques dans le but de rendre la mesure reproductible et compatible avec les cadences industrielles. Ainsi il s'agit de minimiser le nombre de paramètres à mesurer et d'optimiser la procédure de mesure.

Abstract


The development of RFID technology depends on the definition and the validation in real environment of a number of standards and norms accepted by all users. In this context the LNE and the LCIS have partnered to oversee a thesis to allow the qualification of RFID systems, whether in terms of regulations or actual performance observed in an operational setting.
This includes, identifying what are the RFID system's parameters that are most relevant to measure. It may be RF parameters such as the EM field and its special evolution and / or functional parameters in terms of protocol. The measurement of this parameters must also be subject to searches in order to make the measure reproducible and consistent with the industrial rates. In this goal, we have to minimize the number of parameters to measure and optimize the measurement procedure.

Mots clés / Key words

RFID, UHF, passive tag, measurement, Radar Cross Section, Backscattering modulation

Pour en savoir plus

[1] Audrey Pouzin, Tan-Phu Vuong, Smail Tedjini, Maxime Pouyet, Jacques Perdereau, Determination of the Activation Range of Passive UHF RFID Transponders by Radar Cross-Section Measurements, Proceedings of the European Microwave Conference (EuMC2009), Rome, Italy, 2009

[2] A. Pouzin, T. P. Vuong, S. Tedjini, M. Pouyet, and J. Perdereau, Measurement of Differential Radar Cross Section of UHF RFID Tags, Proceedings of Progress in Electromagnetics Research Symposium (PIERS 2009), Moscow, Russia, 2009

[3] A. Pouzin, T.P. Vuong , S. Tedjini, M. Pouyet, J. Perdereau and L. Dreux, Determination of Measurement Uncertainties Applied to the RCS and the Differential RCS of UHF Passive RFID Tags, Proceedings of IEEE Antennas and Propagation Society International Symposium (IEEE A&P-S 2009),Charleston, USA, 2009

[4] A. Pouzin, A.L. Perrier, T.P. Vuong, J. Perdereau, L. Dreux, S. Tedjini, Measurement of RCS and reading range of UHF tags in free space and with wood support, Proceedings of the International Conference on Advanced Technologies for Communications (ATC 2008), pp 262-265, Hanoi, Vietnam, 6-9 octobre 2008

[5] A. Pouzin, T.P. Vuong, S. Tedjini, J. Perdereau, L. Dreux, Measurement of Radar Cross Section for Passive UHF RFID Tags, Proceedings of the European Conference on Antenna and Propagation (EuCAP2007), Edinburg, UK, novembre 2007

 [6] A. Pouzin, T.P. Vuong, J. Perdereau, S. Tedjini, Etude de la Surface Equivalente Radar (SER) des tags RFID passifs UHF, 19ème colloque international Optique Hertzienne et Diélectrique (OHD2007), Valence, France, septembre 2007

mise à jour le 2 avril 2012

Grenoble INP Institut d'ingénierie Univ. Grenoble Alpes